Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

Упражнение 1:

Номер 1

Какие  из приведенных ниже дефектов характерны для интегральных схем?

Ответ:

(1) пропущенные контактные окна

(2) пропущенные компоненты

(3) погрешности травления

(4) электрическое перенапряжение

(5) неправильные аналоговые спецификации

(6) дефекты характеристик

Номер 2

Какие  из приведенных ниже дефектов характерны для плат?

Ответ:

(1) электромигация

(2) дефекты упаковки

(3) замыкания

(4) неправильные компоненты

(5) неправильная цифровая логика

(6) обрывы

(7) паразитические транзисторы

Номер 3

Какое соотношение между дефектом и неисправностью?

Ответ:

(1) взаимнооднозначное

(2) один ко многим

(3) много к одному

Упражнение 2:

Номер 1

Что характеризует константную неисправность?

Ответ:

(1) перемежающиеся значения сигналов

(2) постоянное значение сигналов

(3) постоянно замкнутое состояние

Номер 2

Что характеризует транзисторные неисправности?

Ответ:

(1) постоянно проводящее состояние

(2) изменение времени распространения сигнала

(3) постоянно разомкнутое состояние

Номер 3

Что характеризует неисправность "задержка"?

Ответ:

(1) ухудшение внутренних параметров

(2) увеличение времени распространения сигнала

(3) наводки сигналов

(4) генерация сигналов

Упражнение 3:

Номер 1

Какие дефекты может моделировать константная неисправность?

Ответ:

(1) замыкание линии на землю

(2) наводки сигнала

(3) пробой оксида

(4) замыкание линии на источник питания

(5) задержка распространения сигнала

Номер 2

Какие одиночные константные неисправности вентиля  проверяет входной набор ?

Ответ:

(1)

(2)

(3)

Номер 3

Какие одиночные константные неисправности вентиля проверяет входной набор ?

Ответ:

(1)

(2)

(3)

Упражнение 4:

Номер 1

Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.

Какие неисправности  прилагаемой схемы эквивалентны?

Ответ:

(1)

(2)

(3)

(4)

(5)

Номер 2

Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.

Какие одиночные константные неисправности схемы находятся в отношении доминирования?

Ответ:

(1)

(2)

(3)

(4)

(5)

Номер 3

Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.

Какие контрольные точки имеет схема?

Ответ:

(1)

(2)

(3)

Упражнение 5:

Номер 1

Как моделируется замыкание двух линий в ТТЛ логике?

Ответ:

(1) разветвлением линий

(2) проводным И

(3) проводным ИЛИ

Номер 2

Как моделируется замыкание двух линий в ЭСЛ логике?

Ответ:

(1) повторителем

(2) проводным НЕ-И

(3) проводным ИЛИ

Номер 3

Как моделируется замыкание двух линий в КМОП-логике?

Ответ:

(1) узлом ветвления

(2) элементом исключающее ИЛИ

(3) в зависимости от типов вентилей и характеристик

Упражнение 6:

Номер 1

Какие отказы характерны для МОП-технологии?

Ответ:

(1) обрыв сопротивления

(2) замыкание источника питания

(3) обрыв транзистора

(4) замыкание транзистора

(5) замыкание исток-сток

(6) обрыв между стоком, истоком и затвором

Номер 2

Какая модель применяется для моделирования транзисторов на переключательном уровне?

Ответ:

(1) функциональный блок

(2) идеальный ключ

(3) логический вентиль

Номер 3

Какие неисправности используются на переключательном уровне?

Ответ:

(1) константа 0

(2) константа 1

(3) ключ постоянно разомкнут

(4) ключ постоянно замкнут

Упражнение 7:

Номер 1

Чем обусловлена задержка сигнала в модели "задержка вентиля"?

Ответ:

(1) соединениями

(2) логическим элементом

(3) наводкой

Номер 2

Чем обусловлена задержка сигнала в модели "задержка пути"?

Ответ:

(1) суммарной задержкой

(2) емкостной наводкой

(3) индуктивной наводкой

Номер 3

Сколько входных набров используется для тестирования неисправности "задержка"?

Ответ:

(1) 1

(2) 2

(3) 3

Упражнение 8:

Номер 1

Какие конструкции используются в неисправностях ЯРП?

Ответ:

(1) логические вентили

(2) языковые конструкции

(3) транзисторы

Номер 2

Какие перекрестные помехи рассматриваются?

Ответ:

(1) индуцированные импульсы

(2) индуцированные задержки

(3) индуцированные колебания

Номер 3

Какие наводки превалируют в субмикронных технологиях?

Ответ:

(1) индуктивные

(2) емкостные

(3) распределенные

Номер 4

При каких условиях  могут возникнуть индуцированные задержки?

Ответ:

(1) изменения сигналов на агрессоре и жертве в одном направлении

(2) изменения сигналов на агрессоре и жертве в разных направлениях

(3) изменений сигналов на линиях агрессоре и жертве нет

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств - тест 10