игра брюс 2048
Главная / Аппаратное обеспечение / Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств / Тест 10

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств - тест 10

Упражнение 1:
Номер 1
Какие  из приведенных ниже дефектов характерны для интегральных схем?
	
   

Ответ:

 (1) пропущенные контактные окна  

 (2) пропущенные компоненты  

 (3) погрешности травления  

 (4) электрическое перенапряжение  

 (5) неправильные аналоговые спецификации  

 (6) дефекты характеристик  


Номер 2
Какие  из приведенных ниже дефектов характерны для плат?
	
   

Ответ:

 (1) электромигация  

 (2) дефекты упаковки  

 (3) замыкания  

 (4) неправильные компоненты  

 (5) неправильная цифровая логика  

 (6) обрывы  

 (7) паразитические транзисторы  


Номер 3
Какое соотношение между дефектом и неисправностью?
	
   

Ответ:

 (1) взаимнооднозначное  

 (2) один ко многим  

 (3) много к одному  


Упражнение 2:
Номер 1
Что характеризует константную неисправность?
	
   

Ответ:

 (1) перемежающиеся значения сигналов  

 (2) постоянное значение сигналов  

 (3) постоянно замкнутое состояние  


Номер 2
Что характеризует транзисторные неисправности?
	
   

Ответ:

 (1) постоянно проводящее состояние  

 (2) изменение времени распространения сигнала  

 (3) постоянно разомкнутое состояние  


Номер 3
Что характеризует неисправность "задержка"?
	
   

Ответ:

 (1) ухудшение внутренних параметров  

 (2) увеличение времени распространения сигнала  

 (3) наводки сигналов  

 (4) генерация сигналов  


Упражнение 3:
Номер 1
Какие дефекты может моделировать константная неисправность?
   

Ответ:

 (1) замыкание линии на землю  

 (2) наводки сигнала  

 (3) пробой оксида  

 (4) замыкание линии на источник питания  

 (5) задержка распространения сигнала  


Номер 2
Какие одиночные константные неисправности вентиля math проверяет входной набор math?
   

Ответ:

 (1) math  

 (2) math  

 (3) math  


Номер 3
Какие одиночные константные неисправности вентиля mathпроверяет входной набор math?
   

Ответ:

 (1) math  

 (2) math  

 (3) math  


Упражнение 4:
Номер 1
Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.
files
Какие неисправности  прилагаемой схемы эквивалентны?
   

Ответ:

 (1) math  

 (2) math  

 (3) math  

 (4) math  

 (5) math  


Номер 2
Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.
files
Какие одиночные константные неисправности схемы находятся в отношении доминирования?
   

Ответ:

 (1) math  

 (2) math  

 (3) math  

 (4) math  

 (5) math  


Номер 3
Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.
files
Какие контрольные точки имеет схема?
   

Ответ:

 (1) math  

 (2) math  

 (3) math  


Упражнение 5:
Номер 1
Как моделируется замыкание двух линий в ТТЛ логике?
   

Ответ:

 (1) разветвлением линий  

 (2) проводным И  

 (3) проводным ИЛИ  


Номер 2
Как моделируется замыкание двух линий в ЭСЛ логике?
   

Ответ:

 (1) повторителем  

 (2) проводным НЕ-И  

 (3) проводным ИЛИ  


Номер 3
Как моделируется замыкание двух линий в КМОП-логике?
   

Ответ:

 (1) узлом ветвления  

 (2) элементом исключающее ИЛИ  

 (3) в зависимости от типов вентилей и характеристик  


Упражнение 6:
Номер 1
Какие отказы характерны для МОП-технологии?
   

Ответ:

 (1) обрыв сопротивления  

 (2) замыкание источника питания  

 (3) обрыв транзистора  

 (4) замыкание транзистора  

 (5) замыкание исток-сток  

 (6) обрыв между стоком, истоком и затвором  


Номер 2
Какая модель применяется для моделирования транзисторов на переключательном уровне?
   

Ответ:

 (1) функциональный блок  

 (2) идеальный ключ  

 (3) логический вентиль  


Номер 3
Какие неисправности используются на переключательном уровне?
   

Ответ:

 (1) константа 0  

 (2) константа 1  

 (3) ключ постоянно разомкнут  

 (4) ключ постоянно замкнут  


Упражнение 7:
Номер 1
Чем обусловлена задержка сигнала в модели "задержка вентиля"?
   

Ответ:

 (1) соединениями  

 (2) логическим элементом  

 (3) наводкой  


Номер 2
Чем обусловлена задержка сигнала в модели "задержка пути"?
   

Ответ:

 (1) суммарной задержкой  

 (2) емкостной наводкой  

 (3) индуктивной наводкой  


Номер 3
Сколько входных набров используется для тестирования неисправности "задержка"?
   

Ответ:

 (1) 1  

 (2) 2  

 (3) 3  


Упражнение 8:
Номер 1
Какие конструкции используются в неисправностях ЯРП?
   

Ответ:

 (1) логические вентили  

 (2) языковые конструкции  

 (3) транзисторы  


Номер 2
Какие перекрестные помехи рассматриваются?
   

Ответ:

 (1) индуцированные импульсы  

 (2) индуцированные задержки  

 (3) индуцированные колебания  


Номер 3
Какие наводки превалируют в субмикронных технологиях?
   

Ответ:

 (1) индуктивные  

 (2) емкостные  

 (3) распределенные  


Номер 4
При каких условиях  могут возникнуть индуцированные задержки?
   

Ответ:

 (1) изменения сигналов на агрессоре и жертве в одном направлении  

 (2) изменения сигналов на агрессоре и жертве в разных направлениях  

 (3) изменений сигналов на линиях агрессоре и жертве нет  




Главная / Аппаратное обеспечение / Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств / Тест 10