Главная / Аппаратное обеспечение /
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств / Тест 21
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств - тест 21
Упражнение 1:
Номер 1
Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля при преобразовании в КНФ?
Ответ:
 
(1)
 
 
(2)
 
 
(3)
 
Номер 2
Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля при преобразовании в КНФ?
Ответ:
 
(1)
 
 
(2)
 
 
(3)
 
Номер 3
Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля при преобразовании в КНФ?
Ответ:
 
(1)
 
 
(2)
 
 
(3)
 
Упражнение 2:
Номер 1
Какая КНФ соответствует приведенной схеме?
Ответ:
 (1)
 
 (2)
 
 (3)
 
Номер 2
Какая КНФ соответствует приведенной схеме?
Ответ:
 (1)
 
 (2)
 
 (3)
 
Номер 3
Для какой схемы строится КНФ при построении теста?
Ответ:
 (1) исправная схема
 
 (2) неисправная схема
 
 (3) различающая функция
 
Упражнение 3:
Номер 1
Какую сложность решения в общем случае имеет задача выполнимости КНФ?
Ответ:
 (1) линейная
 
 (2) полиномиальная
 
 (3) экспоненциальная
 
Номер 2
От чего зависит в первую очередь сложность решения задачи выполнимости КНФ?
Ответ:
 (1) число переменных
 
 (2) число термов в дизъюнктах
 
 (3) число дизъюнктов
 
Номер 3
При каком числе термов в дизъюнктах задача выполнимости КНФ имеет полиномиальную сложность?
Ответ:
 (1) 1
 
 (2) 2
 
 (3) 3
 
Упражнение 4:
Номер 1
Что можно внести в КНФ для учета нелокальной импликации?
Ответ:
 (1) дополнительные переменные
 
 (2) дополнительные дизъюнкты
 
 (3) дополнительные термы
 
Номер 2
Что нужно внести в КНФ для учета информации об активизированных путях?
Ответ:
 (1) вспомогательные переменные
 
 (2) дополнительные дизъюнкты
 
 (3) дополнительные элементы схемы
 
Номер 3
Можно ли удалять отдельные переменные из КНФ?
Ответ:
 (1) нельзя никогда
 
 (2) можно всегда
 
 (3) можно, когда это не вредит окончательному решению
 
Упражнение 5:
Номер 1
На каких уровнях проектирования можно использовать бинарные диаграммы?
Ответ:
 (1) уровень электрических схем
 
 (2) структурный логический уровень
 
 (3) функциональный логический уровень
 
 (4) уровень языков регистровых передач
 
Номер 2
При решении каких задач можно использовать бинарные диаграммы?
Ответ:
 (1) логическое моделирование исправных схем
 
 (2) логическое моделирование неисправных схем
 
 (3) проверка временных соотношений в схеме
 
 (4) генерация тестов
 
Номер 3
К чему сводятся решение задач с использованием бинарных диаграмм?
Ответ:
 (1) отслеживание путей на графах
 
 (2) поиск путей на графах
 
 (3) поиск замкнутых циклов на графах
 
Упражнение 6:
Номер 1
Как используются бинарные диаграммы при построении тестов?
Ответ:
 (1) бинарная диаграмма различающей функции
 
 (2) активизация путей на бинарной диаграмме
 
 (3) минимизация бинарной диаграммы
 
Номер 2
Какие модели неисправностей ориентированы на бинарные диаграммы?
Ответ:
 (1) константная неисправность
 
 (2) обрыв дуги узла
 
 (3) короткое замыкание
 
 (4) постоянная активность дуги узла
 
Номер 3
К чему может привести неисправность в бинарной диаграмме?
Ответ:
 (1) появление новых путей в графе
 
 (2) исчезновение путей в графе
 
 (3) пересечение путей в графе
 
Упражнение 7:
Номер 1
Что составляет основу в методе покрытия путей в бинарной диаграмме?
Ответ:
 (1) все возможные пути
 
 (2) 0-эксперименты
 
 (3) +1-эксперименты
 
Номер 2
Какие пути активизируют 0-эксперименты в бинарных диаграммах?
Ответ:
 (1) пути, заканчивающиеся в единичной вершине
 
 (2) пути, заканчивающиеся в неопределенной вершине.
 
 (3) пути, заканчивающиеся в нулевой вершине
 
Номер 3
Чем отличаются в "боковые эффекты" от основных экспериментов?
Ответ:
 (1) выходными значениями
 
 (2) входными значениями
 
 (3) ничем не отличаются
 
Упражнение 8:
Номер 1
Что дает сжатие тестов?
Ответ:
 (1) уменьшает полноту теста
 
 (2) уменьшает длину теста
 
 (3) уменьшает время тестирования
 
Номер 2
Что лежит в основе статического сжатия теста?
Ответ:
 (1) объединение тестовых наборов
 
 (2) устранение лишних тестовых наборов
 
 (3) пересечение тестовых наборов
 
Номер 3
Что лежит в основе динамического сжатия тестов?
Ответ:
 (1) устранение лишних тестовых наборов
 
 (2) доопределение тестовых наборов
 
 (3) выбор вторичной неисправности