игра брюс 2048
Главная / Аппаратное обеспечение / Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств / Тест 21

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств - тест 21

Упражнение 1:
Номер 1
Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля math при преобразовании в КНФ?
	 
   

Ответ:

 (1) math  

 (2) math  

 (3) math  


Номер 2
Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля math при преобразовании в КНФ?

   

Ответ:

 (1) math  

 (2) math  

 (3) math  


Номер 3
Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля math при преобразовании в КНФ?

   

Ответ:

 (1) math  

 (2) math  

 (3) math  


Упражнение 2:
Номер 1
Какая КНФ соответствует приведенной схеме?

files

	
   

Ответ:

 (1) (E\vee\overline{B})\cdot(E\vee\overline{A})\cdot(\overline{E}\vee A\vee B)\cdot\\ (F\vee\overline{A})\cdot(F\vee\overline{C})\cdot(\overline{F}\vee A\vee C)\cdot\\ (\overline{D}\vee E)\cdot(\overline{D}\vee F)\cdot(D\vee\overline{E}\vee \overline{F})  

 (2) (E\vee B)\cdot(\overline{E}\vee\overline{A})\cdot(\overline{E}\vee A\vee B)\cdot\\ (F\vee\overline{A})\cdot(F\vee\overline{C})\cdot(\overline{F}\vee A\vee C)\cdot\\ (\overline{D}\vee E)\cdot(\overline{D}\vee F)\cdot(\overline{D}\vee\overline{E}\vee\overline{F})  

 (3) (E\vee\overline{B})\cdot(E\vee\overline{A})\cdot(\overline{E}\vee\overline{A}\vee\overline{B})\cdot\\ (F\vee\overline{A})\cdot(F\vee\overline{C})\cdot(\overline{F}\vee A\vee C)\cdot\\ (\overline{D}\vee E)\cdot(\overline{D}\vee F)\cdot(D\vee\overline{E}\vee\overline{F})  


Номер 2
Какая КНФ соответствует приведенной схеме?

files
		
   

Ответ:

 (1) (\overline{E}\vee B)\cdot(\overline{E}\vee A)\cdot(\overline{A}\vee\overline{B}\vee E)\cdot\\ (\overline{F}\vee A)\cdot(\overline{F}\vee C)\cdot(\overline{A}\vee\overline{C}\vee F)\cdot\\ (D\vee\overline{E})\cdot(D\vee\overline{F})\cdot(E\vee F\vee\overline{D})  

 (2) (\overline{E}\vee B)\cdot(\overline{E}\vee A)\cdot (\overline{A}\vee\overline{B}\vee\overline{E})\cdot\\ (\overline{F}\vee A)\cdot(F\vee C)\cdot(\overline{A}\vee\overline{C}\vee F)\cdot\\ (D\vee\overline{E})\cdot(D\vee\overline{F})\cdot(E\vee F\vee\overline{D})  

 (3) (\overline{E}\vee B)\cdot(\overline{E}\vee A)\cdot(A\vee B\vee E)\cdot\\ (\overline{F}\vee A})\cdot(\overline{F}\vee C)\cdot(\overline{A}\vee\overline{C}\vee F)\cdot\\ (D\vee E)\cdot(D\vee\overline{F})\cdot(E\vee F\vee D)  


Номер 3
Для какой схемы строится  КНФ при построении теста?
	
   

Ответ:

 (1) исправная схема  

 (2) неисправная схема  

 (3) различающая функция  


Упражнение 3:
Номер 1
Какую сложность решения в общем случае имеет задача выполнимости  КНФ?
	 
   

Ответ:

 (1) линейная  

 (2) полиномиальная  

 (3) экспоненциальная  


Номер 2
От чего зависит в первую очередь сложность решения задачи выполнимости КНФ?

   

Ответ:

 (1) число переменных  

 (2) число термов в дизъюнктах  

 (3) число дизъюнктов  


Номер 3
При каком числе термов в дизъюнктах задача выполнимости КНФ имеет полиномиальную сложность?

   

Ответ:

 (1) 1  

 (2) 2  

 (3) 3  


Упражнение 4:
Номер 1
Что можно внести в КНФ для учета нелокальной импликации?
	 
   

Ответ:

 (1) дополнительные переменные  

 (2) дополнительные дизъюнкты  

 (3) дополнительные термы  


Номер 2
Что нужно внести в КНФ для учета информации об активизированных путях?

   

Ответ:

 (1) вспомогательные переменные  

 (2) дополнительные дизъюнкты  

 (3) дополнительные элементы схемы  


Номер 3
Можно ли удалять отдельные переменные из КНФ?

   

Ответ:

 (1) нельзя никогда  

 (2) можно всегда  

 (3) можно, когда это не вредит окончательному решению  


Упражнение 5:
Номер 1
На каких уровнях проектирования можно использовать бинарные диаграммы?
	 
   

Ответ:

 (1) уровень электрических схем  

 (2) структурный логический уровень  

 (3) функциональный логический уровень  

 (4) уровень языков регистровых передач  


Номер 2
При решении каких задач можно использовать бинарные диаграммы?

   

Ответ:

 (1) логическое моделирование исправных схем  

 (2) логическое моделирование неисправных схем  

 (3) проверка временных соотношений в схеме  

 (4) генерация тестов  


Номер 3
К чему сводятся решение задач с использованием бинарных диаграмм?

   

Ответ:

 (1) отслеживание путей на графах  

 (2) поиск путей на графах  

 (3) поиск замкнутых циклов на графах  


Упражнение 6:
Номер 1
Как используются бинарные диаграммы при построении тестов?
	 
   

Ответ:

 (1) бинарная диаграмма различающей функции  

 (2) активизация путей на бинарной диаграмме  

 (3) минимизация бинарной диаграммы  


Номер 2
Какие модели неисправностей ориентированы на бинарные диаграммы?

   

Ответ:

 (1) константная неисправность  

 (2) обрыв дуги узла  

 (3) короткое замыкание  

 (4) постоянная активность дуги узла  


Номер 3
К чему может привести неисправность в бинарной диаграмме?

   

Ответ:

 (1) появление новых путей в графе  

 (2) исчезновение путей в графе  

 (3) пересечение путей в графе  


Упражнение 7:
Номер 1
Что составляет основу в методе покрытия путей в бинарной диаграмме?
	 
   

Ответ:

 (1) все возможные пути  

 (2) 0-эксперименты  

 (3) +1-эксперименты  


Номер 2
Какие пути активизируют  0-эксперименты в бинарных диаграммах?

   

Ответ:

 (1) пути, заканчивающиеся в единичной вершине  

 (2) пути, заканчивающиеся в неопределенной вершине.  

 (3) пути, заканчивающиеся в нулевой вершине  


Номер 3
Чем отличаются в "боковые эффекты" от основных экспериментов?
   

Ответ:

 (1) выходными значениями  

 (2) входными значениями  

 (3) ничем не отличаются  


Упражнение 8:
Номер 1
Что дает сжатие тестов?
	 
   

Ответ:

 (1) уменьшает полноту теста  

 (2) уменьшает длину теста  

 (3) уменьшает время тестирования  


Номер 2
Что лежит в основе статического сжатия теста?

   

Ответ:

 (1) объединение тестовых наборов  

 (2) устранение лишних тестовых наборов  

 (3) пересечение тестовых наборов  


Номер 3
Что лежит в основе динамического сжатия тестов?

   

Ответ:

 (1) устранение лишних тестовых наборов  

 (2) доопределение тестовых наборов  

 (3) выбор вторичной неисправности  




Главная / Аппаратное обеспечение / Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств / Тест 21