Инструктивный синтез нанометровых вычислительных структур. От элементной базы к алгоритмически ориентированным субпроцессорам.

Упражнение 1:

Номер 1

К каким (Б)ВС предъявляются наиболее жесткие требования к качеству решения задач обеспечения живучести и восстановления работоспособности?

Ответ:

(1) (Б)ВС, задействованным в обработке диагностических сигналов в медицине

(2) (Б)ВС, задействованным в управлении аэрокосмическими летательными аппаратами

(3) (Б)ВС, задействованным в защите информации в реальном времени

(4) (Б)ВС, задействованным в обработке больших объёмов данных научных экспериментов

Номер 2

Что понимается под живучестью некоторого объекта или системы?

Ответ:

(1) способность функционировать по заданным правилам при отказе отдельных частей

(2) способность обеспечить полное отсутствие отказов отдельных элементов или всей системы

(3) способность дать надёжную оценку вероятности появления отказа всей системы или объекта

(4) способность функционировать каким-либо образом при отказе всей системы или объекта

Номер 3

Система обеспечения живучести МКМД-бит-потоковых (суб)процессоров включает следующие подсистемы:

Ответ:

(1) обнаружения функциональных отклонений

(2) локализации и идентификации отказов

(3) парирования карт отказов

(4) кремниевой перекомпиляции в режиме реального времени

Номер 4

При  локализации и идентификации отказов пространство перебора разбивается на две части:

Ответ:

(1) бит-процессоры, с которых поступает сигнал, и бит-процессоры, с которых сигнала не поступает

(2) заведомо отказавшие бит-процессоры и "подозрительные" бит-процессоры

(3) сами бит-процессоры и связи между ними

(4) бит-процессоры, тестируемые прямыми методами, и бит-процессоры, тестируемые косвенными методами

Упражнение 2:

Номер 1

От каких факторов зависит темп реального времени в работе системы обеспечения живучести МКМД-бит-потоковых субпроцессоров?

Ответ:

(1) эффективность управления системой хранения бит-инструкций

(2) время выбора подходящей топологии микропрограмм

(3) время трансформации исходной топологии

(4) эффективность управления системой рассылки бит-инструкций

Номер 2

Определите наиболее нагруженную в интеллектуальном отношении группу задач при обеспечении живучести МКМД-бит-потоковых субпроцессоров?

Ответ:

(1) задачи аппаратной имитатции работы бит-матрицы

(2) задачи выбора толерантных преобразований исходного "рабочего тела"

(3) задачи выбора не толерантных преобразований исходного "рабочего тела"

(4) задачи трансформации исходного "рабочего тела"

Номер 3

При обеспечении живучести МКМД-бит-потоковых субпроцессоров для глобальных аффинных преобразований исходным объектом служит:

Ответ:

(1) топологическая схема микропрограммы

(2) содержимое регистра бит-инструкции

(3) субпроцессор

(4) МКМД-бит-процессорная матрица

Номер 4

От чего зависит время выполнения аффинных преобразований микропрограмм?

Ответ:

(1) от содержимого микропрограмм

(2) размерами используемой МКМД-бит-процессорной матрицы

(3) особенностями компоновки библиотечных слов-команд в микропрограммы

(4) специфическими требованиями к объектному коду микрокомманд

Упражнение 3:

Номер 1

Оцените количество каналов тестирования горизонтальных и вертикальных связей бит-матрицы размерности [I,J] с полнодоступной периферией:

Ответ:

(1) 2(I+J) тактов

(2) 1,5(I*J) тактов

(3) 1,5(I+J) тактов

(4) (I+J) тактов

Номер 2

Оцените время диагностики горизонтальных и вертикальных связей в бит-матрице размерности [I,J] с полнодоступной периферией.

Ответ:

(1) 2(I+J) тактов

(2) 1,5(I*J) тактов

(3) 1,5(I+J) тактов

(4) (I+J) тактов

Номер 3

Оцените время диагностики горизонтальных и вертикальных связей в бит-матрице размерности [I,J], имеющей по одному тестовому входу и выходу слева и снизу.

Ответ:

(1) 1,5(I+J) тактов

(2) 2(I*J) тактов

(3) 3,5(I+J) тактов

(4) (I+J) тактов

Номер 4

Как называют независимое распространение по каналам транзита двух соседних строк бит-процессоров с возвращением отклика по каналам транзита третьей строки?

Ответ:

(1) T-рекурсивный функциональный тест

(2) 2FT-рекурсивный возвратный тест

(3) T-рекурсивный возвратный тест

(4) FT-рекурсивный функциональный тест

Упражнение 4:

Номер 1

Основной недостаток рекурсивных в пространстве и во времени алгоритмов локализации и идентификации отказов состоит в том, что неисправность:

Ответ:

(1) в каждом предыдущем бит-процессоре нарушает логику перебора комбинаций входных тест-данных в последующих бит-процессорах тестируемого канала

(2) в каждом последующем бит-процессоре "блокирует" доставку откликов от всех предыдущих бит-процессоров

(3) в каждом последующем бит-процессоре нарушает логику перебора комбинаций входных тест-данных в предыдущих бит-процессорах тестируемого канала

(4) в каждом предыдущем бит-процессоре "блокирует" доставку откликов от всех последущих бит-процессоров

Номер 2

В Т-рекурсивных тестах основной вклад в увеличение неопределенности задач локализации и идентификации отказов вносят:

Ответ:

(1) неисправные эквидистантные D-триггеры двумерной FIFO-регистровой D-шины бит-матрицы

(2) неисправные эквидистантные P-триггеры двумерной FIFO-регистровой P-шины бит-матрицы

(3) неисправные эквидистантные D-триггеры двумерной LILO-регистровой D-шины бит-матрицы

(4) неисправные эквидистантные P-триггеры двумерной LILO-регистровой P-шины бит-матрицы

Номер 3

Микро-"вихрем", который образуется в цепи обратной связи АЛУ бит-процессора, обусловлены последствия отказа в случае:

Ответ:

(1) инверсии DD-ассоциативного управления бит-инструкциями NAND и XOR

(2) нулевое начальное состояние LILO-регистров-аккумуляторов накапливающих сумматоров

(3) инверсии PD-ассоциативного управления бит-инструкциями ADD и ST1

(4) ненулевое начальное состояние FIFO-регистров-аккумуляторов накапливающих сумматоров

Номер 4

Чем парируется отказ начальной установки его FIFO-регистрового аккумулятора в случае сумматора-накопителя:

Ответ:

(1) обнулением D-триггеров

(2) обнулением управляющих, DD-ассоциативных, циклических констант

(3) проверкой правильности реализации слов-инструкции DCC

(4) нелинейным AP-ассоциативным преобразованием

Упражнение 5:

Номер 1

Какие факторы оказывают основное влияние на время получения индивидуальных откликов от всех бит-процессоров тестируемого канала?

Ответ:

(1) содержимое регистра бит-инструкции

(2) бит-потоки отладочных данных, привязанные к каждому выходу с точностью до такта конечной задержки

(3) режим работы бит-процессора

(4) бит-потоки отладочных данных

Номер 2

Укажите, в каком или каких режимах не может работать платформа интерактивного микропрограммного конструирования (Designer):

Ответ:

(1) Работа с выделением

(2) Частоты

(3) Входы-выходы

(4) Такты

Номер 3

При работе в режиме коммутационного автомата используются:

Ответ:

(1) матрица переходов

(2) D-триггеры канала АЛУ

(3) неустойчивость естественных свойств фазового пространства физической системы

(4) D-триггеры канала транзита

Номер 4

Как рассматривают проверяемые бит-процессоры приходится при синтезе тестовых последовательностей?

Ответ:

(1) как конечные автоматы

(2) как комбинационные автоматы

(3) как многотактные автоматы

(4) как однотактные автоматы

Упражнение 6:

Номер 1

Какие факторы оказывают основное влияние на снижение размерности диагностируемого пространства?

Ответ:

(1) физико-технические факторы

(2) системотехнические факторы

(3) электротехнические факторы

(4) схемотехнические факторы

Номер 2

Какие факторы оказывают основное влияние на снижение времени каждого проводимого теста?

Ответ:

(1) физико-технические факторы

(2) системотехнические факторы

(3) электротехнические факторы

(4) схемотехнические факторы

Номер 3

Бит-процессор может работать в следующих режимах:

Ответ:

(1) комбинационного автомата

(2) конечного автомата

(3) конечного автомата

(4) многотактного автомата

Номер 4

Критерий эффективности работы адаптивных алгоритмов генерации тестовых микропрограмм определяется следующими факторами или фактором:

Ответ:

(1) сложностью синтеза теста

(2) сложностью анализа полученных на основе теста откликов

(3) временем синтеза теста

(4) временем анализа полученных на основе теста откликов

Упражнение 7:

Номер 1

Что является объектом диагностики при использовании не Tlf-адаптивных алгоритмов тестирования?

Ответ:

(1) субпроцессор

(2) группа субпроцессор

(3) часть МКМД-бит-процессорной матрицы

(4) вся МКМД-бит-процессорная матрица

Номер 2

От каких конструктивных характеристик бит-матрицы зависит продолжительность её диагностики?

Ответ:

(1) триггеры канала АЛУ

(2) размеры бит-матрицы

(3) разрядность гальванических шин

(4) разрядность конфигурация гальванических шин

Номер 3

В чем состоит принципиальное отличие тестовых микропрограмм эксплуатационной диагностики?

Ответ:

(1) в них оба операнда подаются и распространяются по бит-матрице как независимые

(2) в них оба операнда формируются за счет реакции последующего бит-процессора

(3) в них только один операнд подается и распространяется по бит-матрице как независимый, а второй формируется за счет реакции последующего бит-процессора

Номер 4

Каков общий первый шаг последовательностей всех процедур тестирования?

Ответ:

(1) анализ откликов на подаваемые тест-данные

(2) "прослушивание" канала теста без подачи тест-данных

(3) импорт операционных устройств

(4) вычисление количества правильных реакций для всевозможных подмножеств карт

Упражнение 8:

Номер 1

Выберите истинное утверждение или утверждения.

Ответ:

(1) невозможно однозначно идентифицировать координату отказа в рамках одного горизонтального теста

(2) возможно однозначно идентифицировать координату отказа в рамках одного горизонтального теста

(3) невозможно однозначно идентифицировать координату отказа в рамках одного вертикального теста

(4) возможно однозначно идентифицировать координату отказа в рамках одного вертикального теста

Номер 2

Для какого вида диагностики характерна полная гальваническая доступность всех периферийных процессоров по данным:

Ответ:

(1) для промышленной диагностики

(2) для аппаратной эмуляции диагностических процедур

(3) для эксплуатационной диагностики

(4) для корректирующей диагностики

Номер 3

Чем обусловлена эффективность всей системы локализации и идентификации отказов в бит-матрице?

Ответ:

(1) тривиальностью управления процессом разработки

(2) совершенством парадигм программирования, имеющихся в распоряжении разработчиков

(3) исчерпывающими способами описания поведения больших дискретных систем

(4) скоростью адаптации линейных тестов и откликов на действующую карту отказов

Номер 4

Решающий вклад в минимизацию времени программирования бит-матрицы вносит:

Ответ:

(1) структура DD-ассоциативных связей

(2) конструкция FIFO-регистровой Р-шины

(3) конструкция гальванической D-шины

(4) Tlf-адаптивность вторичной топологии тестовых микропрограмм

Инструктивный синтез нанометровых вычислительных структур. От элементной базы к алгоритмически ориентированным субпроцессорам. - тест 7